El circuito habitual (que se encuentra ampliamente en Internet) para la fuente de entropía de un verdadero generador de números aleatorios (TRNG) es un transistor con polarización inversa como este:
Q1 suele ser un 2N3904, ya que se ha descubierto que es bastante ruidoso al revés cuando se ejecuta en modo de avería. +ve es típicamente del orden de 11V. Esta topología funciona bien inicialmente.
Me encontré con alguien que había construido un TRNG y experimentó problemas por los cuales "después de unos 3 meses de uso, la señal de ruido se desviaba". He visto otras referencias a la degradación a largo plazo de dicha topología, pero parece que no puedo ubicarlas en este momento.
Tengo la sensación de que empujar continuamente los electrones por el lado equivocado de un transistor podría ser perjudicial, pero no he encontrado ninguna referencia que lo demuestre de una forma u otra. Después de todo, este no es el caso de uso principal de un transistor.
¿Podría la unión sufrir daños graduales e irreversibles alterando así sus características de ruido? Los diodos Zener son otra situación por completo, ya que la ruptura es su modus operandi.
Tres referencias sobre E.SE analizan la polarización inversa, pero no la estabilidad a largo plazo:
Descripción de la unión PN con polarización inversa
¿Una unión PN con polarización inversa crea ruido cuántico?
¿Mi ruido de avalancha es "aleatorio"?
¿Es un transistor con polarización inversa estable a largo plazo?
No, no son estables.
La ganancia de corriente Ic/Ib de los transistores bipolares disminuye fuertemente cuando se daña el óxido sobre la unión emisor-base. Los resultados obtenidos con diferentes condiciones de estrés llevan a señalar dos procesos de degradación: el proceso principal consiste en el aumento de la recombinación en la vecindad de la región de carga espacial en la unión base-emisor.
Ref DEGRADACIÓN DE PARÁMETROS DE UNIÓN DE UN TRANSISTOR BIPOLAR NPN TENSIONADO ELÉCTRICAMENTE
N. TOUFIK, F. PILANCHON y P. MIALHE*
El informe anterior se basó en el 2N2222, que tiene un umbral de ruptura inversa más bajo que el 2N3904 y también más voltaje de ruido, pero quizás una degradación más rápida. Todavía tengo que encontrar un informe sobre el 2N3904, por lo que una corriente de avalancha no controlada es inestable con una resistencia pequeña
Transistor I=1μA 10μA 100μA Noise(I=10μA) For I=[5-50]μA noise:
BC107B 9.30V 9.30V 9.28V 200mVpp inc., max=10μA, dec.
BC548A 8.44V 8.46V 8.45V 100mVpp constant
BC547B 8.23V 8.22V 8.23V 100mVpp decreases
BC547C 8.36V 8.35V 8.34V 120mVpp decreases
BC546B 8.19V 8.21V 8.19V 120mVpp inc., max=10μA, dec.
2N3904 10.82V 10.80V 10.76V 400mVpp constant
2N2222A 7.20V 7.25V 7.23V 440mVpp constant
Referencia http://holdenc.altervista.org/avalanche/index.html
Lo anterior usa una fuente de corriente constante a diferencia del rng2.0 de Paul Campbell, que se basa en la corriente de avalancha en la base * hFE limitada por el colector R = 3.3k a 20V, por lo que si hFE es solo 100, el diodo puede ser (20V-1Vsat)/3.3k/ 100(hfe)= 58uA que sería excesivo.
Dada la pregunta inicial, el diseño satura el ruido en una señal digital y el ruido puede variar en la corriente con la temperatura y el ancho de banda espectral, no es estable y se desconoce el umbral por encima de 10 uA donde la falla se degrada rápidamente, lo que limita la corriente inversa a los criterios de prueba de Mfg. porque Vr tendría más sentido.
La siguiente pregunta es ¿qué tan estable debe ser? ¿Qué son los criterios de vida útil y la repetibilidad de las puntuaciones del NIST? ¿Cuáles son los resultados de la prueba sobre el rango ambiental?
Aumentar el tamaño del capacitor de acoplamiento puede aumentar el número máximo de 1 consecutivos, una figura de mérito al extender el número de décadas del rango de frecuencia a expensas del retraso en el arranque o la sensibilidad a la desviación de la regulación del suministro.
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Pablo Uszak
Tony Estuardo EE75
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CohetePI