Error sistemático de alta frecuencia en mediciones de TF

Divulgación completa, hice una pregunta muy similar antes que no tuvo mucho éxito porque era demasiado específica. Sin embargo, quiero volver a intentarlo restringiendo el alcance de la pregunta.

Guión

Estoy realizando mediciones de una función de transferencia de un DAQ (NI USB-6251). He colocado 2 MΩ en serie entre la entrada y la salida del DAQ:

^{simular este circuito : esquema creado con CircuitLab}

Las impedancias de salida/entrada en el esquema anterior provienen de la hoja de datos DAQ .

Debido a los 100 pF en la entrada del DAQ, espero ver un filtro de paso bajo con una frecuencia de corte en

Resultados medidos

Al ajustar un modelo RC a las medidas, encuentro que la capacitancia es de alrededor de 57 pF (punto de 1396 Hz 3 dB). Entonces esto se ajusta bastante bien a las medidas, hasta unos 10 kHz.

La pregunta

¿Por qué a altas frecuencias las medidas se desvían del modelo? ¿Alguien ha visto este comportamiento antes?

Editar

A continuación se muestra la medición sin R2, es decir, sin resistencia de 2 M. Todavía parece haber una desviación en amplitud y fase de la respuesta plana anticipada. La respuesta de amplitud se ajusta a lo que se especifica en la hoja de datos de la Figura 2.

Como referencia, estoy usando una frecuencia de muestreo de 1 MHz, estoy usando una longitud de señal de 1 segundo que se promedia 100 veces.

Editar 2

He actualizado mi modelo: ahora incluye la resistencia de salida de 0,2 Ω y ahora incluye una capacitancia parásita en la resistencia. Sintonizando manualmente usando la respuesta de amplitud, encontré que 650 fF es un buen ajuste, ilustrado en la figura a continuación. Si bien la fase está sobrecompensada, estoy empezando a ver que es probable que esto se deba a efectos parásitos de orden superior, como mencionó Daniel Turizo en mi pregunta anterior. No parece que sea fácil conseguir un ajuste perfecto a frecuencias más altas, sobre todo porque estoy trabajando en una placa de pruebas...